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Pierre Stadelmann
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office(s):
MXC139
phone(s): [+41 21 69] 32976,34405
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MAIN PUBLICATIONS
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Structural Stabilization of New Compounds: MoS2 and WS2 Micro- and Naotubes Alloyed with Gold and Silver, M. Remskar, Z. Skraba, P. Stadelmann and F. Levy , Avanced Materials Vol. 12, No. 11, pp. 814-818 ; March 16 2000 (2000). , 2000 Off-axis electron holography of single ferromagnetic nanowires, Beeli-C, Doudin-B, Ansermet-J, Stadelmann-PA, Materials-Characterization. Vol 42 No 4-5, pp. 175-182 ; (1999). , 1999
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BIOGRAPHY
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Originaire de Escholzmatt (LU), Pierre Stadelmann est né à Vevey en 1949. Après une maturité scientifique au gymnase de la Cité en 1968, il étudie à l'EPFL et obtient son diplôme d'ingénieur physicien en 1973. De 1973 à 1977 il effectue un travail de doctorat au Laboratoire de génie atomique de l'EPFL. De 1977 à 1978 il est employé de la compagnie IBM. Il rejoint le Centre interdépartemental de microscopie électronique (CIME) de l'EPFL en janvier 1979. Son activité au CIME est principalement liée au développement de la microscopie électronique à transmission et en particulier aux techniques de simulation numérique permettant l'interprétation des images expérimentales. Il a séjourné à plusieurs reprises à Arizona State University, Rutgers University, University of Illinois Urbana-Champaign et au Kernforschungsanlage de Jülich. Il est membre du Advisory Editorial Board de la revue Ultramicroscopy. Il est l'auteur d'un logiciel de simulation d'images très utilisé dans les centres de microscopie électronique et de plus de 70 articles. Il enseigne les techniques de la microscopie électronique aux 2e et 3e cycles. En 1995 il est nommé professeur titulaire.
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| Skills |
Diffraction physics Holography & energy loss spectroscopy |
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| Teaching |
Materials Science and Engineering
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| Phd programs |
- Materials Science and Engineering (edoc)
- Physics (edoc)
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