Giacomo Garegnani
giacomo.garegnani@epfl.ch +41 21 693 49 85
EPFL SB MATH ANMC
MA C2 614 (Bâtiment MA)
Station 8
CH-1015 Lausanne
Web site: Site web: https://anmc.epfl.ch/
Web site: Site web: https://epflsiam.wordpress.com/
Web site: Site web: https://go.epfl.ch/edma
Biographie
Giacomo Garegnani est un étudiant doctorant à l'EPFL dans la chaire d'Analyse Numérique et Mathématiques Computationnelles (ANMC).
Il a obtenu un diplôme traditionnel en piano au Conservatorio Vivaldi en 2012, et son Master en Sciences Computationnelles et Ingénierie à l'EPFL en 2017, avec un Projet de Master sous la supervision du Prof. A. Abdulle.
Il a obtenu un diplôme traditionnel en piano au Conservatorio Vivaldi en 2012, et son Master en Sciences Computationnelles et Ingénierie à l'EPFL en 2017, avec un Projet de Master sous la supervision du Prof. A. Abdulle.
Travail en cours
Méthodes numériques probabilistes pour équations différentielles et inférence Bayésienne de modèles déterministes et stochastiques.
Parcours professionnel
Software Engineering Intern
MindMaze
2016
R&D Intern
STMicroelectronics
2015
Formation
MSc
Computational Science and Engineering
EPFL
2017
BSc
Mathematical Engineering
Politecnico di Milano
2014
Publications
Sélection de publications
| Assyr Abdulle, Giacomo Garegnani arXiv preprint arXiv:2103.06204 |
A probabilistic finite element method based on random meshes: Error estimators and Bayesian inverse problems |
| Assyr Abdulle, Giacomo Garegnani, Grigorios A. Pavliotis, Andrew M. Stuart, Andrea Zanoni arXiv preprint arXiv:2009.13457 |
Drift Estimation of Multiscale Diffusions Based on Filtered Data |
| Assyr Abdulle, Giacomo Garegnani, Andrea Zanoni Multiscale Modeling and Simulation, 18, pp. 1565-1594 (2020) |
Ensemble Kalman filter for multiscale inverse problems |
| Assyr Abdulle, Giacomo Garegnani Statistics and Computing, 30, pp. 907-932 (2020) |
Random time step probabilistic methods for uncertainty quantification in chaotic and geometric numerical integration |
| Giacomo Garegnani, Vincent Fiori, Gilles Gouget, Frederic Monsieur, Clement Tavernier Microelectronics Reliability, 63, pp. 90-96 (2016) |
Wafer level measurements and numerical analysis of self-heating phenomena in nano-scale SOI MOSFETs |
| Giacomo Garegnani, Vincent Fiori, Sebastien Gallois-Garreignot, Roberto Gonella Electronics System-Integration Technology Conference, Grenoble (2016) |
Numerical analysis of thermal effects in SOI MOSFET flip-chip packages: multi-scale studies on isolated transistors and global simulations |