Biography

De nationalité suisse et française, Pierre Jacquot est né en 1947 à Besançon, où il obtient de l’université de Franche-Comté la maîtrise de physique (1970) et le doctorat en physique (1973). Il est engagé en 1974 au département de génie civil de l’EPFL pour développer un laboratoire dédié à l'analyse de déformation de corps solide, fondé sur l’optique cohérente, et en particulier l'interférométrie holographique et la métrologie speckle. La recherche et les mandats le confrontent à des problèmes de détermination du comportement mécanique, de contrôle non destructif, de vérification expérimentale de modèles numériques, de mesure de forme, de caractérisation de propriétés de matériaux, où ces nouvelles techniques optiques prouvent leur efficacité. En 1978 il est nommé chargé de cours aux départements de génie civil et de physique. Pendant 3 ans, il sera aussi chargé de cours au département de microtechnique. Coordinateur du programme Erasmus “Applied optics”, il dispense un enseignement de spécialisation à l'Ecole supérieure d'optique, Orsay, à la Scuola di tecnologie ottiche, Nuoro, dans les formations CMOI-SFO et ateliers CNRS Photomécanique, à l’institut CREST de l’université de Franche-Comté, Belfort. Il est nommé professeur titulaire EPFL en 1996. Il organise à Lausanne la conférence internationale “Interferometry in speckle light” en 2000. Son groupe et ses activités sont transférés la même année au Laboratoire de métrologie du département d’électricité, qui devient en 2003 le Laboratoire de nanophotonique et métrologie. Ses thèmes de recherche sont les éléments optiques diffractifs, l'analyse numérique d'interférogrammes, l'interférométrie speckle digitale, les méthodes de projection de franges, qui constituent le cadre des sujets de thèse proposés dans son groupe. Les besoins de la pratique orientent ses recherches vers des systèmes capables d'opérer hors du laboratoire, dans les halles d'essais, voire in situ. Dans ce but, il a co-initié le projet Eureka VISILAS d'analyse de déformation de grandes structures dans leur environnement. En collaboration avec l’IOA-EPFL, et sous l’impulsion de ce dernier, le piégeage et l’agrégation optiques à l’échelle mésoscopique ont été récemment adjoints aux activités du groupe. Pierre Jacquot est membre de plusieurs comités scientifiques de conférences et d’associations.

OPTICAL FULL-FIELD MEASUREMENT METHODS

One of the most significant roles of light is to act as an information carrier. This function is clearly and successfully established in guided wave optics and for the purposes of telecommunication or sensing. Impressive achievements are also demonstrated with full-field optical methods, in which spatially extended light beams, propagating in free space, are used to illuminate and to create images, diffraction and interference patterns of entire objects. Operating with light beams in free space offers the opportunity of performing many interesting types of measurement and our nanophotonics & metrology Laboratory devotes part of its resources to the development of such full-field methods. These methods possess a high degree of parallelism: a multitude of points on an object surface can be interrogated simultaneously without any crosstalk; the information can be transmitted for detection and recording at a remote location, at the speed of light; furthermore, there are only vanishingly small interactions between the light and any object, due to the infinitesimal energy and momentum transfers to the object. In the NAM context, we are principally interested in shape and deformation measurements, for which experimental mechanics is the principal field of application. Material science studies, structural engineering problems and non-destructive testing are concerned. Many disciplines, including civil and environmental engineering, biomechanics and biophysics, micro- and nano-technologies make daily use of these techniques. Our group acquired much of its competence and know-how while first working in the domain of holographic interferometry. The group then turned its activities towards speckle interferometry techniques. Highly coherent sources illuminating unpolished surfaces invariably produce a 3D random distribution of light – the so-called speckle waves. The research lines in the direction of making optimal use of the properties of speckle waves for metrological purposes can be summarised as follows: general properties, design of imaging and interferometric configurations using speckle waves, image and interference signal processing, new applications in shape, displacement and strain measurements. Link: http://nam.epfl.ch/research/99.html